食品加工および技術ジャーナル

概要

サッカロミセス・セレビシエモデルシステムに対する高圧とパルス電場の同時影響

ロズカ SJ、ムシアウ F、ルトコフスカ、フォンベリ＝ブロチェク M、ソコウォフスカ B、ドロズド＝ロゾスカ A、ノヴァコフスカ J

Saccharomyces cerevisiae モデル懸濁液に対する同時高圧 (HPP) およびパルス電場 (PEF) 保存処理の結果が発表されました。これらは、一連の強電場の正弦波パルスと関連した PEF 法の新しい実装に基づいています。同時 HPP + PEF により、圧力 P = 200 MPa の低温殺菌閾値と、個別の HPP および PEF 処理の一般的な値を大幅に下回る電場強度 E < 10 kV/cm に到達できました。新しい PEF 実装では、寄生加熱が無視できるほど小さいことが注目に値します。HPP、PEF、および HPP + PEF の補足的な広帯域誘電分光法 (BDS) 周波数スキャンにより、特に複素導電率の表現で顕著な質的な違いが明らかになりました。