インデックス付き
  • Jゲートを開く
  • Genamics JournalSeek
  • アカデミックキー
  • ジャーナル目次
  • 研究聖書
  • 中国国家知識基盤 (CNKI)
  • シマゴ
  • ウルリッヒの定期刊行物ディレクトリ
  • 電子ジャーナルライブラリ
  • レフシーク
  • ハムダード大学
  • エブスコ アリゾナ州
  • OCLC-WorldCat
  • SWBオンラインカタログ
  • 仮想生物学図書館 (vifabio)
  • パブロン
  • ミアル
  • 科学インデックスサービス (SIS)
  • ユーロパブ
  • Google スカラー
このページをシェアする
ジャーナルチラシ
Flyer image

概要

Theoretical modeling and experimental validation of Electrical conductivity for highly aligned single-walled carbon nanotube thin films

Maher S. Amer*, Mark J. Foster, Ali M. Al Mafrage and Mohammed K. Mohammed

A new model capable of accurately predicting the electrical conductivity of highly aligned single-walled carbon nanotube thin films has been developed. The films ranged between 1 and 11 layers thick. The well-established Lamination theory failed to predict the experimentally measured values for the films of different thicknesses. However, this model, based on modified and expanded techniques applied within the realm of the lamination theory, could predict the exact values taking into consideration the inter-layer interaction that is crucial for the properties and performance of nano- films.