膜科学技術ジャーナル

概要

正に帯電したポリエーテルスルホン膜：フロセミドのゼータ電位への影響

ジョアンナ・ガッシュ、クラウディア・S・レオポルド、ホルガー・ノス

本研究の目的は、非荷電 (PES0) および正に荷電した (PES+) ポリエーテルスルホン膜のゼータ電位の変化を測定し、その化学組成を調べることです。0.2 μm の PES0 および PES+ 膜を備えたエンドトキシン保持フィルターを、濃度が最大 60 μmol/l まで上昇するフロセミドナトリウム溶液の濾過に使用します。両方の膜の化学組成を分析するために、X 線光電子分光法 (XPS) を使用しました。ゼータ電位は、流動電流動電分析装置によって測定しました。正のゼータ電位に対応する PES+ 膜の正電荷は、フロセミドナトリウム濃度の増加とともに減少しました。対照的に、PES0 膜のゼータ電位は、薬物濃度の増加によってほとんど変化しません。XPS により、調査した膜の化学組成を決定できます。両方の膜には、酸素、炭素、硫黄、窒素のみが含まれています。PES+ 膜の表面では、正電荷はアンモニウム窒素によって生じています。イオン性添加物は検出されませんでした。製造元が想定している PES+ フィルターの使用期間 (96 時間) は、非イオン性輸液にのみ適用されます。したがって、イオン性輸液を使用する場合は、フィルターの最大使用期間に関する情報を提供する必要があります。